同惠TH2825A 高速LCR數(shù)字電橋

產品簡介

同惠TH2825A 高速LCR數(shù)字電橋
■ TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

產品型號：TH2825A

更新時間：2025-07-06

廠商性質：代理商

訪問量：1827

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產品分類

同惠測試儀器

數(shù)據(jù)采集/記錄儀電力電子測試儀電阻類測試儀器線纜/線束測試儀器電氣安規(guī)測試儀器繞線元件測試儀器元件參數(shù)測試儀器

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品牌	同惠電子	產地類別	國產
應用領域	電子/電池

同惠TH2825A 高速LCR數(shù)字電橋

簡介

■ TH2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數(shù)測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能,可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

■ 本產品運用了元件測試領域的技術，測試能力可達到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了的Z高測量速度15ms/次，尤其是解決了長期困擾測試部門低頻測試速度慢的難題，為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。

■ 不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果，TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要，保證不同儀表間測試結果的一致性。

■ 陶瓷電容器（MLCC）對測試信號電平極為敏感，TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器，允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試，100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。

■ TH2825A具備變壓器測試能力，使用專門的變壓器測試夾具，無須改變測試線方式便可方便地測量匝數(shù)比（N，1/N）、互感（M）、初次級電感（LA、LB），初次級直流電阻（DCR2）。有-5V-5V偏置電壓（僅TH2825A），可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。

應用

技術參數(shù)

型號		TH2825A
顯示器		240x64點陣LCD顯示器，5位讀數(shù)分辨率
測試參數(shù)	LCR參數(shù)	\|Z\|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR
	變壓器參數(shù)	DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB
測試頻率		50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10點
測試電平		10mVrms-1.0Vrms,1mV步進＜200mV10mV步進≥200mV
信號源內阻		25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒壓）
DC偏置電流（≥1kHz）		當100Ω內阻時，±50mAMax當25Ω內阻時，±200mAMax
基本測量準確度		0.1%
顯示范圍		\|Z\|,R,X	0.01mΩ—99.99MΩ
		G,B	0.0001μS—999.99S
		C	0.001pF—1.9999F
		L	0.001μH—99.9999kH
		Q	0.0001—9999
		D	0.0001—9999
		θ(DEG)	-180.00°—180.00°
		θ(RAD)	-3.1415—3.1415
		Δ%	-999.99%—999.99%
		TurnsRatio	0.001—9999.9
		DCR	0.1mΩ—99.99MΩ
		M,L2	0.001μH—99.99kH
測量速度（≥100Hz）		快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms
等效電路		串聯(lián),并聯(lián)
量程方式		自動,保持/手動切換
觸發(fā)方式		內部,手動,外部，總線
平均次數(shù)		1—255
校準功能		開路,短路,負載校正
測量端		5端
顯示方式		直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示),檔號及檔計數(shù)
列表掃描		4點頻率,電平列表掃描測試
比較器功能		九檔（八檔合格，一檔不合格）
		上超/合格/下超比較器
存儲器		12組內部儀器設定供存儲/調用
接口		RS-232C,HANDLER,GPIB(選件)
		4263B*兼容，為與4263B的互換提供了良好的條件。
		注1：快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數(shù)小字符顯示比較判別。若包括測試參數(shù)大字符顯示，Z快測試時間另加5ms。